Martínez Llebrez, Vicente <br/><br/>
Fundamentos de normalización y metrología / 
Vicente Martínez Llebrez. 
 - México :  Instituto Politécnico Nacional ; Cuba : Ministerio de Educación Superior,   1998 
 - 539 p. 
<br/><br/><label>ISBN: </label>970-18-1883-0 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>CONTROL DE CALIDAD<br/>MEDICION<br/>PRODUCCION--ADMINISTRACION
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>658.562 M3855f