Normal view MARC view ISBD view

Fundamentos de normalización y metrología /

Martínez Llebrez, Vicente

Fundamentos de normalización y metrología / Vicente Martínez Llebrez. - México : Instituto Politécnico Nacional ; Cuba : Ministerio de Educación Superior, 1998 - 539 p.

ISBN: 970-18-1883-0

Subjects--Topical Terms:
CONTROL DE CALIDAD
MEDICION
PRODUCCION--ADMINISTRACION

Dewey Class. No.: 658.562 M3855f

Place hold
Print
Add to your cart (remove)
Suggest for purchase
Send to device
Save record
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (non-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
More searches

Search for this title in:
Other Libraries (WorldCat) Other Databases (Google Scholar) Online Stores (Bookfinder.com) Open Library (openlibrary.org)